近日、凯发平台网 二院201所“任翔创新工作站”成功研制出微带隔离器通用测试夹具，大幅提升了此类器件的测试效率，有效降低了测试成本。该测试夹具可对近十种不同封装的微带隔离器进行测试，具备测试频段宽、测试精度高、测试效率高、测试成本低以及不损伤器件等特点。该夹具投入生产后，将在解决测试任务需求的同时进一步实现“降本增效”。

微带隔离器广泛应用于通信、遥测、定位等系统中收发通道天线端的连接和隔离。用于功率放大器输出端的反射保护，特别适合小型化组件设计和集成电路使用，具有体积小、工作频段高等特点，用于系统、组件模块中线路驻波的改善和器件隔离。

由于微带隔离器在测试中。必须设计专用的测试夹具实现，无法直接与同轴接口的微波测试设备相连进行测试。鉴于微波器件无损测试的特殊性、设计加工成本高，以往每种封装的微波器件的测试都需要设计一款专用夹具，夹具通用性低。再加上传统的测试方法需要在信号的输入输出端采用金丝键合，金丝的使用又进一步抬高了测试成本。这些都为此类器件的大批量测试带来了通用性差、效率低、成本高以及易损伤器件等诸多问题。针对此种现状，成功研制了该款微带隔离器通用测试夹具，积极在微波器件通用测试夹具设计开发方面进行技术攻关，201所“任翔创新工作站”技术人员主动出击。

近年来、伴随着电子系统不断向高性能化、高集成化方向的发展，对微波器件测试技术也提出了更高的要求，新工艺、新类别、新功能的微波器件不断增多。在今后的工作中。201所“任翔创新工作站”将继续开展技术攻关，进一步加强元器件可靠性核心技术能力建设。(文/任翔 杜晴）